驅(qū)動控制器快速溫變試驗箱

快速溫變試驗箱

產(chǎn)品用途：快速溫變試驗箱適用于***工業(yè),航空工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗。

產(chǎn)品執(zhí)行及符合部分標(biāo)準(zhǔn)：

1、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2006 (IEC68-2-1)

2、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2006（IEC68-2-2）

3、GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗方法

4、GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗方法

5、GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》

6、GB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術(shù)條件》

7、GB/T10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》

8、GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》

驅(qū)動控制器快速溫變試驗箱

快速溫變試驗箱，又稱快速溫變化試驗箱、應(yīng)力篩選試驗箱，適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在快速高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的環(huán)境適應(yīng)性試驗，以及溫度變化試驗。

產(chǎn)品用途：

TEB系列快速溫變試驗箱主要用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分，實現(xiàn)以快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計缺陷和工藝問題的有效方法。